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產(chǎn)品中心半導體材料測試CV測試LEI Model2017B汞探針測試
產(chǎn)品簡介
LEI Model2017B，通過汞探針接觸方法，對各類半導體材料的載流子濃度分布進行測試，特別適合GaN.SiC等化合物材料。
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