產(chǎn)品簡介
CV-1500，用于測試界面和介電層的科研平臺，基于SDI Corona-Kelvin技術(shù)，可以進行非接觸C-V/I-V測試。

產(chǎn)品型號：

更新時間：2025-07-24

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

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產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

半導(dǎo)體材料測試

體微缺陷測試霍爾電阻遷移率光伏光致發(fā)光深能級瞬態(tài)譜測試橢偏拉曼AFM 半導(dǎo)體多功能測試 CV測試系統(tǒng)集成測試儀器租賃

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Capability:

Semiconductor Surface Barrier-V_s_b 表面勢壘
Oxide Total Charge -Q_tot 氧化物總電荷
Interface Trapped Charge-Q_it 界面電荷
Interface Trap Density-D_it 界面態(tài)密度
Di Spectrum:D_it vs. V_s_b
Dielectric Capacitance -C_D and thickness -CET 介電層電容和電學(xué)總厚度
Dielectric Leakage 介電層漏電

CV-1500非接觸CV測試系統(tǒng)

上海波銘科學(xué)儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統(tǒng)、晶萃光學(xué)機械和光學(xué)平臺、激光器、Edmund 光學(xué)元件、Newport 產(chǎn)品、濱松光電探測器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學(xué)測試系統(tǒng)、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級相機、Semilab 半導(dǎo)體測試設(shè)備及高低溫探針臺系統(tǒng)。經(jīng)過多年的發(fā)展，上海波銘科學(xué)儀器有限公司在市場上已取得了一定的地位。我們的產(chǎn)品和服務(wù)在行業(yè)內(nèi)具有較高的知zhi名度和美譽度，客戶遍布全國。我們將繼續(xù)努力，不斷提升市場地位和影響力。

上一個：深能級瞬態(tài)譜測試儀